發(fā)布時(shí)間:2024.12.12
超聲波測(cè)厚系統(tǒng)的發(fā)展歷史可以大致分為以下幾個(gè)階段:
早期探索階段:
19世紀(jì):人們開(kāi)始研究聲波在空氣和其他材料中的傳播。
1830年:法國(guó)科學(xué)家菲利克斯·薩伐爾(Félix Savart)首次利用人工機(jī)械技術(shù)產(chǎn)生超聲波。
1880年:法國(guó)物理學(xué)家皮埃爾·居里(Pierre Curie)和雅克·居里(Jacques Paul Curie)兩兄弟發(fā)現(xiàn)電氣石的壓電效應(yīng),這為后來(lái)利用電子技術(shù)產(chǎn)生超聲波奠定了基礎(chǔ)。
技術(shù)奠基階段:
20世紀(jì)20年代:使用超聲波檢測(cè)材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的想法開(kāi)始得到探究。
1931年:超聲無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的第一個(gè)特定專利被申請(qǐng)。
1940年:密歇根大學(xué)的Floyd Firestone教授發(fā)明了第一臺(tái)實(shí)用的商業(yè)超聲檢測(cè)儀器,稱為反射鏡,并獲得了專利。
技術(shù)進(jìn)步與應(yīng)用拓展階段:
第二次世界大戰(zhàn)期間:聲吶的發(fā)展進(jìn)一步推動(dòng)了超聲檢測(cè)技術(shù)的進(jìn)步。
20世紀(jì)50年代:商業(yè)超聲儀器開(kāi)始大量出現(xiàn),主要用于超聲探傷,但也逐漸用于厚度測(cè)量。
20世紀(jì)60年代:出現(xiàn)了第一批為測(cè)量厚度而設(shè)計(jì)的更小、更便攜的儀器,這些儀器以數(shù)字形式顯示厚度。
1973年:奧林巴斯的前身Panametrics推出的5221型儀器是第一臺(tái)預(yù)設(shè)有多模式測(cè)量功能、可以測(cè)量多種材料和厚度的商用超聲測(cè)厚儀。
性能提升與功能完善階段:
20世紀(jì)70年代:電池供電、相對(duì)緊湊的超聲測(cè)厚儀變得普遍,儀器也持續(xù)變得更小巧、更強(qiáng)大。
20世紀(jì)80年代:測(cè)厚儀中引進(jìn)了波形顯示和內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄功能,以協(xié)助操作人員更有效地進(jìn)行測(cè)量。
20世紀(jì)90年代:數(shù)字信號(hào)處理取代了模擬電路,提高了測(cè)量的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。
現(xiàn)代發(fā)展階段:
微處理器技術(shù)的進(jìn)步將超聲測(cè)厚儀的性能提升到了新的水平,使其更加成熟和易于使用。
超聲波測(cè)厚儀不僅用于金屬材料的厚度測(cè)量,還廣泛應(yīng)用于非金屬材料的厚度測(cè)量,如塑料、橡膠、陶瓷等。
總之,超聲波測(cè)厚系統(tǒng)的發(fā)展歷史是一個(gè)不斷技術(shù)進(jìn)步、功能完善和應(yīng)用拓展的過(guò)程。從早期的探索到現(xiàn)代的廣泛應(yīng)用,超聲波測(cè)厚系統(tǒng)已成為工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量檢測(cè)中不可或缺的重要工具。